		No cover image available No cover image available Efectos de la radiación ionizante en dispositivos MOS. Aplicación a dosimetría by Lipovetzky, José Publication: 2010 . viii, 126 p. : , Lugar de trabajo: Laboratorio de Física en Dispositivos-Microelectrónica, Departamento de Física, Facultad de Ingeniería - UBA, en el marco de la beca Doctoral Peruilh FIUBA \| Apéndice con listado de publicaciones periódicas relacionadas con esta tesis \| Referencias bibliográficas \| Resumen en inglés y español 30 cm Date: 2010 Availability: Items available: Biblioteca Central Depósito de Consulta [T 1764] (1),
		No cover image available No cover image available Integración en un proceso CMOS de un dosímetro basado en transistores de óxido de campo / by Echarri, Martin Publication: 2014 . 96 p. : , Calificación: 10 (diez) sobresaliente 30 cm. Date: 2014 Availability: Items available: Biblioteca Central Depósito de Consulta [T 1932] (1),

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